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輕便型β測厚儀項目簡介
2014-8-27 來源：正航儀器 作者：正航網絡 閱讀：次
輕便型β厚儀根據氪射線穿過薄膜材料時的減弱規律，利用數字和模擬電路進行運算，顯示薄膜厚度。這種測厚儀可廣泛應用于薄膜、紙張、橡膠、織物等材料的厚度測量，是非接觸式測量儀表。與光電、電容、經外等測厚儀相比，有許多優點：體積小，耗電省，可交直流供電，便于攜帶使用，而且適于在各種不良環境下工作，對各種色彩、花紋及復合材料均可有效使用。
該儀器備有臺式、叉式和反射式三種探頭供用戶選用，既可用于質管部門實驗室測試，又可用于各種生產現場在線連續監測。主要技術指標：
測厚范圍：
量程一：5 g/m2-200g/m2（密度為1g/m3的薄膜相當于5μm-200μm）；
量程二：30 g/m2-1000g/m2（密度為1g/m3的薄膜相當于30μm-1mm）；
測厚精度：厚度≤20 g/m2時為±1g/m2 ，厚度＞20 g/m2時為±5％。http://m.456619.com
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